%0 Journal Article %T پایداری سامانه اندازه‌گیری طول عمر پوزیترون و بررسی نوع و غلظت عیب ناشی از تابش الکترون‌های 10 مگا الکترون ولتی بر نمونه‌های سیلیکونی نوع n و p %J مجلۀ پژوهش فیزیک ایران %I انجمن فیزیک ایران ناشر: دانشگاه صنعتی اصفهان %Z 1682-6957 %A طیب‌فرد, اسماعیل %A مهمان دوست خواجه‌داد, علی‌اکبر %A خاقانی, مرتضی %A جعفرزاده خطیبانی, مرتضی %A پورصالح, علی‌محمد %D 2019 %\ 11/26/2019 %V 15 %N 1 %P 34-41 %! پایداری سامانه اندازه‌گیری طول عمر پوزیترون و بررسی نوع و غلظت عیب ناشی از تابش الکترون‌های 10 مگا الکترون ولتی بر نمونه‌های سیلیکونی نوع n و p %K طیف‌سنجی طول عمر نابودی پوزیترون %K تابش الکترون %K قدرت تفکیک زمانی دستگاه %K عیوب بلوری %R 10.18869/acadpub.ijpr.15.1.34 %X طیف‌سنجی طول عمر نابودی پوزیترون در ماده، یکی از روش‌های با ارزش و غیر مخرب در زمینه مطالعه مواد است که می‌تواند اطلاعاتی در مورد چگالی الکترونی، غلطت عیب، نوع عیب و اتم‌های اطراف عیب ارائه دهد. در این تحقیق، پایداری زمان‌سنجی دستگاه بررسی و اثبات شده است. قدرت تفکیک زمانی دستگاه با چشمه کبالت، 365 پیکوثانیه به دست آمده است. نمونه‌های سیلیکونی نوع n و p تحت تابش باریکه الکترون با مقادیر دز تابشی متفاوت 3، 12 و 30 کیلوگری با انرژی MeV 10 و حداقل جریان باریکه mA 2/0 قرار گرفته است. آمار جمع‌آوری شده برای هر نمونه، حداقل یک میلیون و دویست هزار شمارش است که معمولا طی یک شبانه روز ثبت می‌شود. طیف‌های ثبت شده، با برنامه رایانه‌ای ‌ PAScualبه سه مؤلفه طول عمر برازش، تجزیه و تحلیل شده است. اولین مؤلفه طول عمر، مربوط به نابودی پوزیترون درچشمه و حدود ps 186، دومین مؤلفه طول عمر مربوط به نابودی پوزیترون در حجم نمونه و حدود ps218 و سومین مؤلفه طول عمر، مربوط به نابودی پوزیترون در عیوب است که برای نمونه‌های مختلف، کوچک و متفاوت می‌باشد. %U https://ijpr.iut.ac.ir/article_1120_a01ff239844c02eebb5755668a1cc4d8.pdf