آ. پ. آوچرنکو, , ارشمید نهال, , اس. و. ماسکینای, , ی. ایی. پلاوسکایا, و ی. آ. لوپاشکو, . (1398). تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه. مجلۀ پژوهش فیزیک ایران, 1(3), 201-206.

آ. پ. آوچرنکو, , , ارشمید نهال, , , اس. و. ماسکینای, , , ی. ایی. پلاوسکایا, , و ی. آ. لوپاشکو, . "تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه", مجلۀ پژوهش فیزیک ایران, 1, 3, 1398, 201-206.

آ. پ. آوچرنکو , ارشمید نهال , اس. و. ماسکینای , ی. ایی. پلاوسکایا , ی. آ. لوپاشکو . (1398). 'تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه', مجلۀ پژوهش فیزیک ایران, 1(3), pp. 201-206.

آ. پ. آوچرنکو, ارشمید نهال, اس. و. ماسکینای, ی. ایی. پلاوسکایا و ی. آ. لوپاشکو, "تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه," مجلۀ پژوهش فیزیک ایران, 1 3 (1398): 201-206,

آ. پ. آوچرنکو , ارشمید نهال , اس. و. ماسکینای , ی. ایی. پلاوسکایا , ی. آ. لوپاشکو . تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه. مجلۀ پژوهش فیزیک ایران, 1398; 1(3): 201-206.