نویسندگان
گروه فیزیک، دانشگاه شهید چمران اهواز، اهواز
چکیده
لایه‌های نازک شفاف رسانا از نانولوله‌های کربنی چند جداره/ نانوسیم نقره با استفاده از پوشش دهی چرخشی ساخته شدند. اثر بازپخت نمونه‌های ساخته شده از دمای اتاق تا دمای ºC350 به مدت 30 دقیقه به منظور بهبود خواص الکتریکی و نوری لایه‌ها بررسی گردید. اندازه‌گیری‌ها نشان می‌داد که بازپخت لایه‌های نازک ساخته شده در بهبود خواص لایه‌ها مؤثرند. دمای بازپخت بهینه برای بهبود خواص مذکور، دمای ºC285 به دست آمد. رفتار ضخامت لایه‌ها از 89 تا 183 نانومتر نشان داد حضور نانوسیم‌ها باعث بهبود خواص الکتریکی در تمام بازه‌های دمایی می‌شود. بهترین نسبت رسانندگی الکتریکی جـریان ثابت توده به رسانندگی نوری که عدد شایستگی لایه نازک را تعریف می‌کند، برای تمام درصدهای نقره در دمای ºC285 اندازه‌گیری شد. مقاومت الکتریکی سطحی و شفافیت نوری به ترتیب با روش چهار میله و طیف سنجی نورفرابنفش- مرئی اندازه‌گیری شد.
کلیدواژه‌ها
عنوان مقاله [English]
The effect of annealing temperature on electrical and optical properties of transparent and conductive thin films fabicated of multi-walled carbon nanotube/Ag nanowires
نویسندگان [English]
- A zilaee
- M Farbod
چکیده [English]
Transparent and conductive thin films of multi-walled carbon nanotube/ Ag nanowires were fabricated using spin coating technique. In order to improve the electrical conductivity and the optical properties, the layers were annealed from room temperature to 350 °C for 30 minutes. The measurements revealed that annealing caused electrical conductivity of fabricated thin layes to be improved. The optimum annealing temperature for improving these properties was deduced 285 °C. For all different film thicknesses from about 89 to 183 nm it was observed that the presence of nanowires has improved the film’s electrical conductivity in all tempretures. The best ratio of DC conductivity to optical conductivity of the films, which is accounted as films figure of merit, was measured at 285 °C for all Ag percentages. Sheet resistance and optical transmittance were measured by four-point probe technique and UV-Vis spectrophotometer, respectively
کلیدواژه‌ها [English]
- sheet resistance
- thin film figure of merit
- four-point probe
- UV-Vis spectrophotometer
2. J H Chen and Jun-Yu Chen Jpn. J. Appl. Phys 52 (2013) 6.
3. L Shie-Heng, T Chih-Chun, M Chen-Chi, M Ma, W Ikai, Journal of Colloid and Interface Science 364 (2011) 1.
4. T Takehiro, N Masaya, J Jinting and S Katsuaki, Nanoscale Research Lett. 7 (2012) 28.
5. J Mao-xiang, H Chong, L Min, and S Xiang-qian, Nanoscale Res Lett. 9 (2014) 588.
6. J Ham, J LLee. Adv Energy Mater. 4 (2014) 11.
7. S Iijima, T Ichihashi, Nature 363 (1993) 603.
8. Q B Zheng, Z G Li, J H Yang, J K Kim. Progress in Mater Sci. 64 (2014) 200.
9. S T Hsiao, H W Tien, W H Liao, Y S Wang, S M Li, C C Ma, Y H Yu, and W P Chuang. J Mater Chem C. 2 (2014) 7291.
10. Y S Kim, M H Chang, E J Lee, D W Ihm, and J Y Kim, Synthetic Metals. 195 (2014) 69.
11. A D Pasquire and S Fang, Science 309 (2005) 1215.
12. D Sukanta, T M Higgins, P E Lyon, E M Doherty, P N Nirmalraj, W J Blau, J J Boland, and J N Coleman, ACS Nano 3 (2009) 1767.
13. J Y Lee, S T Connor, Y Cui, and P Peumans, Nano Lett. 8 (2008) 689.
14. S Bae, H Kin, Y lee, X Xu, J S Park, Y Zheng, J Balakrumar, T Lei, and H R Kim, Nanotechnol. 5 (2010) 574.
15. A Thess, R Lee, P Nikolaev, H Dai, P Petit, J Robert,C Xu, Y H Lee, S G Kim, and A G Rinzler, Science 273 (1996) 483.
16. M Farbod, S Khajehpour Tadavani, and A Kiasat, Colloids and Surfaces A: Physicochem. Eng Aspects 384 (2011) 685
17. M Dressel, and G Gruner, “Electrodynamics of Solids: Optical Properties of Electrons in Matter”, Cambridge University Press: Cambridge (2002).
18. G Irvin, L Hu, and D S Hecht, Adv Mater 23 (2011) 513.
)