نویسندگان

1 دانشکده مهندسی انرژی دانشگاه صنعتی شریف، تهران

2 دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شریف، تهران . شتاب‌دهنده سزامی، الان، اردن

چکیده

در این مقاله یک روش ساده برای بهینه‌سازی بازتابش آینه‌های نانو- چند لایه متناوب پرتو ایکس در سه انرژی Ti-Kα و Co-Kα وCr-Kα  برای رسیدن به بیشترین بازتابش بر اساس روش ضخامت یک چهارم- موج1 (QW) ارائه شده است. در این روش اگر ضخامت لایه‌ها مضرب فردی از ضخامت QW باشند، پرتوهای ایکس خروجی تداخل سازنده انجام می‌دهند و در این حالت در منحنی بازتابش یک قله به نام قله براگ خواهیم داشت. ضخامت QW به زاویه و انرژی پرتو ورودی وابسته است. برای چند آینه نانو- چند لایه دلخواه در انرژی‌های مذکور و با تغییر زاویه از 5/0 تا 8 درجه ضخامت QW برای لایه‌ها تعیین شد و بازتابش قله براگ در تمام زوایا با استفاده از نرم افزار IMD به دست آمد. با رسم منحنی بازتابش قله‌های براگ بر حسب زوایای مورد نظر، بیشترین بازتابش به دست می‌آید.

کلیدواژه‌ها

عنوان مقاله [English]

Reflection optimization of nano-multilayer X-ray mirrors in three-edge energies: Cr-Kα, Co-Kα, and Ti-Kα

نویسندگان [English]

  • H Ghavidel 1
  • H Khosroabadi 2
  • M Otoukesh 1

چکیده [English]

In this paper, a practical simulation method for optimizing of x-ray reflection of nano-multilayer mirrors in three different edge energies: Cr-Kα, Co-Kα, and Ti-Kα is discussed in order to obtain the most reflection based on quarter-wave thickness method (QW). In this method, the reflected x-ray will have a constructive interference, and a peak, called Brag peak, will appear in reflection curve when the tickness of the layer is an odd multiple of the quarter-wave thickness. The quarter-wave thickness is dependent to on the angle and energy of the entrance photon beam. In the mentioned edge energies, for different nano-multilayer mirrors, and for incident angle ranges from  0.5 to 8 degrees, the QW thikness for each layer is estimated and the Brag peak reflected intensity was simulated for each angle by the IMD computational code. The details shows that the optimal reflection is accessible by plotting Brag peak reflection curves based on the related angles.

کلیدواژه‌ها [English]

  • X-ray reflectivity
  • nano-multilayer mirror
  • quarter-wave method

1. M Yamamoto and T Namioka, Appl. Opt. 31, 10 (1992) 2. J I Larruquert, J. Opt. Soc. Am. A. 18, 10 (2001). 3. J I Larruquert, J. Opt. Soc. Am. A. 19, 2 (2002) 4. P H Berning, “Physics of Thin Films”,Academic, New York. 1 (1963) 69. 5. L G Parratt, Phys. Rev. 95, 359 (1954). 6. K Stoev and K Sakurai; Japanese Journal of Applied Physics. 53, (2014) 1. 7. E Spiller, P Dhez, and C Weisbuch, eds, “Multilayer optics for soft x-rays”, Physics Fabrication, and Applications of Multilayered Structures. (1988) 284. 8. D L Windt, Comput. Phys. 12 (1998) 360. 9. Center for x ray Optics: CXRO [http://henke.lbl.gov/optical_constants/pert_form.html]. 10. Center for X-Ray Optics, LBNL [http://henke.lbl.gov/multilayer/survey.html]

تحت نظارت وف بومی