نویسندگان

1 دانشگاه صنعتی شریف

2 دانشگاه علوم پزشکی ایران

چکیده

در مقطع‌نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه1، تصویری از ضخامت اپتیکی یعنی حاصل ضرب ضریب شکست n در ضخامت فیزیکی d، مثلاً برای لایه‌های شبکیه چشم به دست می‌آید که برای تشخیص بسیاری از بیماری‌ها در بیمارستان‌های کشور استفاده می‌شود. در کار حاضر، ما یک روش جهت اندازه‌گیری همزمان و مجزای ضریب شکست و ضخامت فیزیکی دستگاه‌های چندلایه‌ای با استفاده از مقطع‌نگاری همدوسی اپتیکی در فضای فوریه بدون اطلاعات اضافی از ساختار نمونه، معرفی می‌کنیم. در این روش تنها داده‌های ورودی، طیف به دست آمده از FD-OCT و ضخامت اپتیکی لایه‌های نمونه که از انتقال فوریه‌ی طیف تداخلی به دست می‌آید، است. نتایج شبیه‌سازی بیانگر این مطلب است، که دقت کمیت‌های اندازه‌گیری شده به اختلاف ضریب شکست دو طرف سطوح نمونه بستگی دارد، چون هرچه اختلاف ضریب شکست دو لایه مجاور بیشتر باشد ضریب بازتاب اپتیکی از آن بیشتر خواهد بود. همچنین نشان خواهیم داد که دقت کمیت‌های به دست آمده تحت تأثیر دقت اندازه‌گیری ضخامت اپتیکی لایه‌ها است. بنابراین روشی جهت بهینه کردن دقت این کمیت‌ها با وجود عدم قطعیت در اندازه‌گیری ضخامت اپتیکی معرفی می‌کنیم. نتایج شبیه‌سازی نشان داده است، برای نمونه‌های زیستی شفاف که در محیط آبی قرار دارند، اگر ضریب شکست لایه‌ها کمتر از 55/1 باشند کمیت‌ها با خطای کمتر از 001/0 قابل اندازه‌گیری‌اند.
 

کلیدواژه‌ها

عنوان مقاله [English]

Fourier Domain Optical Coherence Tomography for Simultaneous Measurement of Refractive Index and Physical Thickness of Multiple layers

نویسندگان [English]

  • A Amjadi 1
  • Kh Ghasemi Falavarjani 2
  • N Moazami Gudarzi 1

چکیده [English]

In fourier domain optical coherence tomography, we can measure the optical thickness ( refractive index n times thickness d), to obtain the retinal layers in order to diagnose many disorders. In this work, we introduce a new method for measurement of refractive index and physical thickness of multiple layers simultaneously by Fourier domain optical coherence tomography, without additional information about the structure of the sample under investigation. The input data to the formulation are the interference spectrum of FD-OCT system and the optical path lengths (OPLs) which obtain from fast fourier transform of interference spectrum. The output of simulation suggest that, the accuracy of the extracted parameters depend on the difference in the refractive index gradient of sample interfaces. Furthermore, we show that the accuracy of the extracted parameters can be affected by uncertainty in obtained OPLs. So, we introduce a method to optimize the accuracy of parameters in spite of uncertainty in measuring OPLs. Simulation results show that, for transparent biological sample merge into an aqueous media, if sample layers has indices less than 1.55 , these parameters can be extracted with the , less than 0.001 .

1. D Huang, et al., Science 254 (1991) 1178. 2. A F Fercher, C K Hitzenberger, G Kamp, and S Y El-Zaiat, Optics Communications 117 (1995) 48. 3. M A Choma, M V Sarunic, C Yang, and J A Izatt, Optics Express 11 (2003) 2189. 4. J F De Boer, B Cense, B H. Park, M C Pierce, G J Tearney, and B E. Bouma, Optics Letters 28, 21 (2003) 2069. 5. R Leitgeb, C Hitzenberger, and A F Fercher, Optics Express 11, (2003) 864. 6. F A South, E J Chaney, M Marjanovic, S G Adie, and S A Boppart, Biomedical Optics Express 5 (2014) 3426. 7. B G Muller et al., Journal of Medical Imaging 2 (2015) 03750. 8. B Vuong, et al., Biomedical Optics Express, 6 (2015) 1501. 9. M A Mayer, J Hornegger, C Y Mardin, and R Tornow, Biomedical Optics Express 1 (2010) 1383. 10. S J Chiu, M J Allingham, P S Mettu, S W Cousins, J A Izatt, and S Farsiu, Biomedical Optics Express 6 (2015) 1172. 11. E Marziani et al., Investigative Ophthalmology & Visual Science 54 (2013) 5953. 12. S A Alexandrov, A V Zvyagin, K D Silva, and D D Sampson, Optics Letters 28 (2003) 117. 13. H C Cheng and Y C Liu, Applied Optics 49 (2010) 790. 14. T Fukano and I Yamaguchi, Optics Letters 21 (1996) 1942. 15. T Fukano and I Yamaguchi, Applied Optics 38 (1999) 4065. 16. M Haruna, M Ohmi, T Mitsuyama, H Tajiri, H Maruyama, and M Hashimoto, Optics Letters 23 (1998) 966. 17. A Hirai and H Matsumoto, Optics Letters 28 (2003) 2114. 18. S Kim, J Na, M J Kim, and B H Lee, Optics Express 16 (2008) 5516. 19. H Maruyama, S Inoue, T Mitsuyama, M Ohmi, and M Haruna, Applied optics 41 (2002) 1315. 20. H Maruyama, T Mitsuyama, M Ohmi, and M Haruna, Optical Review 7 (2000) 468. 21. H Matsumoto, K Sasaki, and A Hirai, Optics Communications 266 (2006) 214. 22. G Min, W J Choi, J W Kim, and B H Lee, Optics Express 21 (2013) 29955. 23. G Min, J W Kim, and B H Lee, SPIE Photonics Europe 8424 (2012) 84281M7. 24. D F Murphy and D A Flavin, Applied Optics 39 (2000) 4607. 25. M. Ohmi, Y. Ohnishi, K. Yoden, and M. Haruna, IEEE Transactions on Biomedical Engineering 47 (2000) 1266. 26. M Ohmi, T Shiraishi, H Tajiri, and M Haruna, Optical Review 4 (1997) 507. 27. W Sorin and D Gray, IEEE Photonics Technology Letters 4 (1992) 105. 28. G Tearney, M Brezinski, B Bouma, M Hee, J Southern, and J Fujimoto, Optics Letters 20 (1995) 2258. 29. X Wang, C Zhang, L Zhang, L Xue, and J Tian, Journal of Biomedical Optics 7 (2002) 628. 30. Y P Wang, D N Wang, W Jin, J P Chen, X W Li, and J H Zhou, Journal of Modern Optics 53 (2006) 1845. 31. K Watanabe, M Ohshima, and T Nomura, Journal of Optics 16 (2014) 045403. 32. C T Yen et al., Optical Engineering 53 (2014) 044108. 33. A V Zvyagin et al., Optics Express 11 (2003) 3503. 34. Y S Ghim and S W Kim, Optics Express 14 (2006) 11885. 35. J Jin, J W Kim, C S Kang, J A Kim, and T B Eom, Optics Express 18 (2010) 18339. 36. J Na, H Y Choi, E S Choi, C Lee, and B H Lee, Applied Optics 48 (2009) 2461. 37. S J Park, K S Park, Y H Kim, and B H Lee, “IEEE Photonics Technology Letters 23 (2011) 1076. 38. P Tomlins and R Wang, IEE Proceedings-Optoelectronics 153 (2006) 222. 39. A Sabzalipour and M R Mohammadizadeh, Iranian Journal of Physics Research 11, 1 (2011) 15. 40. J A Izatt, M A Choma, and A H Dhalla, Optical Coherence Tomography: Technology and Applications (2015) 65. 41. M Wojtkowski, A Kowalczyk, R Leitgeb, and A Fercher, Optics Letters 27 (2002) 1415.

تحت نظارت وف بومی