آ. پ. آوچرنکو، ، ارشمید نهال، ، اس. و. ماسکینای، ، ی. ایی. پلاوسکایا، و ی. آ. لوپاشکو، . (1398). تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه. مجلۀ پژوهش فیزیک ایران، 1(3)، 201–206.

آ. پ. آوچرنکو، ، ارشمید نهال، ، اس. و. ماسکینای، ، ی. ایی. پلاوسکایا، و ی. آ. لوپاشکو، . "تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه"، مجلۀ پژوهش فیزیک ایران، 1، 3، 1398، 201–206.

آ. پ. آوچرنکو، ، ارشمید نهال، ، اس. و. ماسکینای، ، ی. ایی. پلاوسکایا، و ی. آ. لوپاشکو، . (1398). 'تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه'، مجلۀ پژوهش فیزیک ایران، 1(3), pp. 201–206.

آ. پ. آوچرنکو، ، ارشمید نهال، ، اس. و. ماسکینای، ، ی. ایی. پلاوسکایا، و ی. آ. لوپاشکو، ، "تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه." مجلۀ پژوهش فیزیک ایران، 1 3 (1398): 201–206,

آ. پ. آوچرنکو ، ارشمید نهال ، اس. و. ماسکینای ، ی. ایی. پلاوسکایا ، ی. آ. لوپاشکو . تعیین مشخصه‌های اپتیکی لایه‌های نازک هنگام فرآیند لایه‌گذاری در خلاء بدون اندازه‌گیری مستقیم ضرایب بازتاب یا عبور نور از نمونه. مجلۀ پژوهش فیزیک ایران. 1398;1(3):201–206.