نوع مقاله : مقاله پژوهشی
نویسندگان
1 گروه فیزیک، دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران شمال، تهران
2 دانشکدة فیزیک، دانشگاه تهران، تهران
3 گروه فیزیک، دانشگاه آزاد اسلامی واحد ایلام، ایلام
چکیده
در این مقاله نشان میدهیم که از یک گوۀ شفاف یا تیغۀ تخت گوهدار میتوان به جای یک تداخلسنج با کاربردهای متعدد استفاده کرد. با استفاده از این تداخلسنج میتوان توزیع فاز را بر روی فریزهای تداخلی تحریر (مدوله) کرد و با استفاده از آن، به طور کمی، موازی بودن باریکۀ نوری و ابیراهی جبهۀ موج را اندازه گرفت. همچنین برای تعیین شکل خط طیفی در گسترۀ وسیع، اندازهگیری طول موج و ضریب شکست جامدات و مایعات میتوان از این تداخلسنج استفاده کرد. بهعلاوه با این وسیله میتوان باریکههای مناسب نور برای انجام تمام نگاری (هولوگرافی) و مطالعۀ اجسام فازی و ساخت توریهای پراش ایجاد کرد.
کلیدواژه‌ها
عنوان مقاله [English]
Interferometry by a transparent wedge
نویسندگان [English]
- K Samavati 1
- M Tavassoly 2
- H Soleimani 1
- H Salvdari 3
- KH Hassani 2
1 Department of Physics, North Tehran Branch, Islamic Azad University, Tehran, Iran
2 Department of Physics, College of Science, University of Tehran, Tehran, Iran
3 Department of Physics, Ilam Branch, Islamic Azad University, Ilam, Iran
چکیده [English]
In this article we show that a single transparent wedge or a plate with a wedge part can be used as a very simple and useful interferometer with numerous applications. This interferometer permits to modulate phase distribution on interference fringes to evaluate quantitatively the parallelism of a light beam and aberration of a wavefront, to specify the spectral line shape in a wide range, to measure the light wavelength and refractive indices of solids and liquids. In addition, it provides suitable beams for holographic study of phase objects and fabrication of diffraction gratings.
کلیدواژه‌ها [English]
- interferometry
- metrology
- beam splitting
- fringe modulation
- Moiré technique
- R S Sirohi, “Introduction to Optical Metrology”, CRC Press (2016).
- P Hariharan, “Optical Interferometry”, 2nd”, Academic Press (2003).
- E Hecht, “Optics”, 5th ed., Pearson (2017).
- R S Sirohi, “Optical Methods of Measurement Whole field Techniques”, 2nd ed., CRC Press (2017).
- M Strojnik, G Paez, and M Mantravadi, “Optical Shop Testing”, D. Malacara, ch. 4, John Wiley (2007).
- M V R K Murty, Opt. 9 (1970) 1146.
- G Paez, M Strojnik, and G Garcia Torales, Opt. 39 (2000) 5172.
- M Amiri and M T Tavassoly, Commun. 272 (2007) 349.
- M T Tavassoly, M Amiri, A Darudi, R Aalipour, A Saber, and A R Moradi, Opt. Soc. Am. A 26 (2009) 540.
- M T Tavassoly, R Rezvani Naraghi, A Nahal, and Kh Hassani, Lett. 37 (2012) 1493.
- E V Basisty, and V A Komotskii, Electronics Letters 50 (2014) 693.
- D W E Noom, K S E Eikema, and S Witte, Lett. 39 (2014) 193.
- A Mahmoudi, Opt. 54 (2015) 7993.
- M T Tavassoly and H Salvdari, Opt. Soc. Am. A 35 (2018) 2094.
- S Ebrahimi, M Dashtdar, E Sanchez-Ortiga, M Martinez-Corral, and B Javidi, Phys. Lett. 112 (2018) 113701.
- S M A Hosseini-Saber, E A Akhlaghi, and A Saber, Lett. 45 (2020) 3478.
- H Hooshmand-Ziafi, M Dashtdar, and Kh Hassani, Lett. 45 (2020) 3737.
- J Choi, G M Perera, M D Aggarwal, R P Shukla, and M. V. Mantravadi, Opt. 34 (1995) 3628.
- M T Tavassoly and K Samavati, Opt. 53 (2014) 6612.
- V Saveljev, J Y Son, Y Kim, J G Park, and G Heo, Opt. Soc. Am. A 37 (2020) 336.
- K Samavati, M T Tavassoly and H Ghomi, Opt. 56 (2017) 324.
- J S Darlin, K V Sriram, M P Kothiyal, and R S Sirohi, Opt. 34 (1995) 2886.
- M T Tavassoly and A Darudi, commun. 175 (2000) 43.
- E A Akhlaghi, A Darudi and M T Tavassoly, Express 19 (17) (2011) 15976.
- R Yazdani and H Fallah, Opt. 21 (2019) 075702.
- R Yazdani and H Fallah, Opt. Soc. Am. B 35 (2018) 3063.
- Kh Jabbari Hassani and M T Tavassoly, Opt. 58 (2019) 5353.
)